ソフトウェア 名称 バージョン 分類 PHENIX(PHENIX.REFINE: 1.7.3_928)精密化 XDSデータ削減 XDSデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 4AL5解像度 : 2.63→41.733 Å / SU ML : 0.34 / σ(F) : 2.01 / 位相誤差 : 24.61 / 立体化学のターゲット値 : ML詳細 : RESIDUES -4 TO -3 AND 106 TO 137 IN CHAIN A ARE DISORDERED.Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.2521 368 5.1 % Rwork 0.2004 - - obs 0.2031 7275 99.33 %
溶媒の処理 減衰半径 : 0.73 Å / VDWプローブ半径 : 1 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol : 55.218 Å2 / ksol : 0.369 e/Å3 原子変位パラメータ Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -20.1319 Å2 0 Å2 8.8633 Å2 2- - -11.5082 Å2 0 Å2 3- - - -17.0997 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.63→41.733 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1172 314 0 30 1516
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.016 1557 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d1.477 2192 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d16.498 595 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.079 254 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.008 232
LS精密化 シェル 解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Refine-ID % reflection obs (%)2.6301-3.0106 0.2883 124 0.2358 2291 X-RAY DIFFRACTION 100 3.0106-3.7926 0.2828 121 0.1943 2283 X-RAY DIFFRACTION 99 3.7926-41.7378 0.2226 123 0.1916 2333 X-RAY DIFFRACTION 99
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2373 0.0052 -0.0424 0.2109 -0.0772 0.1551 -0.1902 0.3245 0.1405 0.0074 0.1766 -0.0197 -0.0089 0.0063 -0.0023 0.2212 -0.0294 -0.0376 0.2271 -0.0061 0.2885 12.6018 2.0134 29.3095 2 0.0041 -0.0045 0.0016 0.1063 -0.0729 0.1619 0.0464 0.1017 -0.0491 -0.2449 0.0316 -0.0029 -0.0188 -0.2021 0.0858 1.365 -0.0082 0.4805 2.0076 -0.0352 0.6316 18.8766 -4.6601 6.2813
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details 1 X-RAY DIFFRACTION 1 CHAIN A AND (RESID -1:104) OR (RESID 138:187) 2 X-RAY DIFFRACTION 2 CHAIN B