ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | 3.1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
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精密化 | 解像度: 1.9→8 Å / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.256 | 288 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.198 | - | - | - |
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obs | 0.198 | 2708 | 95.5 % | - |
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Refine analyze | Luzzati coordinate error obs: 0.29 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 335 | 0 | 34 | 369 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.01 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.39 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 2 / % reflection Rfree: 10 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS タイプ: x_bond_d / Dev ideal: 0.01 |
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