プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.4→100 Å / Num. obs: 34438 / % possible obs: 98.6 % / Observed criterion σ(I): 2.16 / 冗長度: 5.7 % / Biso Wilson estimate: 17.76 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.04 / Net I/σ(I): 19
反射 シェル
解像度: 1.4→1.48 Å / 冗長度: 5.4 % / Rmerge(I) obs: 0.07 / Mean I/σ(I) obs: 2.16 / % possible all: 95.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
SHELXCD
位相決定
SHELXE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.4→35.007 Å / SU ML: 0.15 / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 19.31 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: RESIDUES 61-66 IN CHAIN A, 64-67 IN CHAIN B ARE DISORDERED
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.191
1722
5 %
Rwork
0.1594
-
-
obs
0.161
34397
98.83 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.65 Å / VDWプローブ半径: 0.8 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 52.16 Å2 / ksol: 0.457 e/Å3