ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.3 精密化 ADSCQuantumデータ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング EPMR位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1KID解像度 : 1.8→29.93 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Data cutoff high absF : 1217562.69 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & Huber / 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.249 1094 5 % RANDOM Rwork 0.227 - - - obs 0.227 21847 99.7 % - all - 21847 - -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 36.3501 Å2 / ksol : 0.4 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 18.8 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -3.96 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 3.43 Å2 0 Å2 3- - - 0.53 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.27 Å 0.24 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.19 Å 0.12 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.8→29.93 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1454 0 0 139 1593
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.75 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.8→1.91 Å / Rfactor Rfree error : 0.024 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.297 155 4.3 % Rwork 0.271 3410 - obs - - 99.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep.param dna-rna.top X-RAY DIFFRACTION 3 water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 4 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 5 carbohydrate.paramcarbohydrate.top