ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SOLVE位相決定 REFMAC5.5.0102精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.05→45.1 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.953 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.924 / SU B : 10.112 / SU ML : 0.121 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0.5 / ESU R Free : 0.17 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22477 3722 5 % RANDOM Rwork 0.17394 - - - obs 0.17657 70208 99.51 % - all - 73962 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 21.063 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.41 Å2 0 Å2 -0.02 Å2 2- - -1.05 Å2 0 Å2 3- - - -1.36 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.05→45.1 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 8816 0 0 336 9152
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.024 0.022 9023 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.953 1.964 12283 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.265 5 1165 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.537 24.661 369 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.721 15 1397 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.451 15 31 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.141 0.2 1393 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.011 0.021 6881 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.961 1.5 5795 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.586 2 9322 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.008 3 3228 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.311 4.5 2961 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / 数 : 2540 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position Amedium positional0.29 0.5 Bmedium positional0.3 0.5 Cmedium positional0.3 0.5 Amedium thermal1.17 2 Bmedium thermal1.23 2 Cmedium thermal1.18 2
LS精密化 シェル 解像度 : 2.052→2.105 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.296 264 - Rwork 0.243 5081 - obs - - 97.36 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.3378 -0.2171 -0.0441 0.7635 0.0818 0.8911 -0.0083 -0.001 -0.0027 0.1504 -0.0173 -0.0548 0.1062 0.0731 0.0256 0.0506 -0.007 -0.0206 0.0266 0.0134 0.0328 44.2452 31.7798 53.7041 2 0.3528 -0.1164 0.0637 0.96 0.121 0.9275 0.0092 0.0319 0.0554 -0.0777 -0.0395 0.009 -0.1364 -0.1014 0.0303 0.026 0.0165 0.0057 0.031 0.0048 0.0582 29.1599 67.3119 37.9551 3 0.4017 -0.3268 -0.1608 1.1563 0.0583 1.2082 0.0565 0.0568 0.0383 -0.1735 -0.0377 -0.1096 -0.0254 0.0784 -0.0188 0.0269 0.0016 0.0141 0.0649 0.0069 0.035 44.3581 37.5878 12.1948
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A3 - 388 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 388 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C-7 - 388