ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | MOLREP | | 位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.1 | データ抽出 | | HKL-2000 | | データ収集 | | HKL-2000 | | データ削減 | | HKL-2000 | | データスケーリング | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PDB entry 3TY3 解像度: 1.55→24.86 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.963 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.955 / WRfactor Rfree: 0.2155 / WRfactor Rwork: 0.1879 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.1 / FOM work R set: 0.8649 / SU B: 3.322 / SU ML: 0.056 / SU R Cruickshank DPI: 0.0856 / SU Rfree: 0.0851 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.085 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2155 | 5157 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1879 | - | - | - |
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all | 0.1893 | 102756 | - | - |
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obs | 0.1893 | 102756 | 99.25 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 55.67 Å2 / Biso mean: 22.1474 Å2 / Biso min: 3.12 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.1 Å2 | 0 Å2 | -0.31 Å2 |
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2- | - | 0.3 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.38 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.55→24.86 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 5309 | 0 | 60 | 500 | 5869 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.012 | 0.022 | 5705 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.409 | 1.983 | 7787 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.296 | 5 | 788 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg37.076 | 23.901 | 223 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg11.955 | 15 | 960 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg21.617 | 15 | 41 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.093 | 0.2 | 912 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.021 | 4291 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.74 | 1.5 | 3695 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.249 | 2 | 5987 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.075 | 3 | 2010 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.319 | 4.5 | 1769 | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.55→1.59 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.322 | 352 | - |
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Rwork | 0.281 | 6731 | - |
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all | - | 7083 | - |
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obs | - | - | 93.31 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 0.8586 | -0.025 | 0.4954 | 0.6108 | 0.0232 | 1.1572 | -0.0318 | 0.082 | 0.0444 | -0.0041 | 0.0233 | -0.0307 | -0.0578 | 0.0292 | 0.0085 | 0.0213 | -0.0174 | 0.0156 | 0.033 | -0.0133 | 0.0195 | 0.707 | 4.56 | 9.763 | 2 | 0.5105 | 0.132 | 0.2433 | 0.6657 | 0.0057 | 1.6839 | 0.0076 | -0.0806 | -0.0211 | 0.0424 | -0.0252 | -0.0103 | 0.1245 | 0.0258 | 0.0176 | 0.0218 | 0.0151 | 0.0072 | 0.0449 | -0.0047 | 0.0221 | -0.14 | -3.694 | 43.438 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A5 - 360 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B4 - 360 | | |
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