ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SHELXS位相決定 REFMAC5.6.0086精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 解像度 : 2.26→46.72 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.973 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.949 / SU ML : 0.14 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.163 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22581 1217 5.1 % RANDOM Rwork 0.16523 - - - all 0.16858 22507 - - obs 0.16858 22507 100 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.96 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.31 Å2 0 Å2 3- - - 3.28 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.26→46.72 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2096 0 0 104 2200
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.024 0.022 2118 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.095 1.973 2854 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.543 5 271 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.852 27.128 94 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg21.564 15 405 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg24.692 15 4 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.122 0.2 335 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 1546 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr5.065 3 5884 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free20.424 5 117 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded27.051 5 2096
LS精密化 シェル 解像度 : 2.26→2.323 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.294 37 - Rwork 0.167 905 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7122 -0.2204 0.1933 0.1037 -0.0334 0.076 0.0114 0.0355 0.0348 -0.0058 -0.0279 -0.0235 0.0025 0.006 0.0165 0.0244 0.0007 0.0054 0.0685 -0.0063 0.2576 33.133 6.688 30.106 2 0.0541 0.0083 -0.005 0.12 0.1197 0.1275 0.0004 -0.0026 -0.035 0.0163 -0.0059 0.0013 0.009 -0.0172 0.0055 0.0229 -0.0013 0.0058 0.0721 -0.0039 0.2846 16.211 28.591 30.576
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A103 - 217 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B103 - 217