ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SOLVE位相決定 PHENIX(phenix.refine: 1.6.3_473)精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.201→29.173 Å / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.42 / FOM work R set : 0.7764 / SU ML : 0.36 / σ(F) : 2.14 / 位相誤差 : 28.75 / 立体化学のターゲット値 : MLHLRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2584 1777 5.02 % RANDOM Rwork 0.2153 - - - obs 0.2175 35414 94.5 % -
溶媒の処理 減衰半径 : 1.06 Å / VDWプローブ半径 : 1.3 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol : 50.368 Å2 / ksol : 0.334 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 172.59 Å2 / Biso mean : 59.9489 Å2 / Biso min : 25.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 17.8542 Å2 -0 Å2 -0 Å2 2- - -11.7659 Å2 -0 Å2 3- - - -6.0884 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.201→29.173 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3479 0 11 204 3694
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.008 3547 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d1.087 4787 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.067 586 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.004 587 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d14.615 1336
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 13
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Num. reflection all % reflection obs (%)2.2013-2.2608 0.3603 103 0.3088 2373 2476 88 2.2608-2.3273 0.3624 120 0.2938 2448 2568 90 2.3273-2.4024 0.3006 135 0.2925 2434 2569 90 2.4024-2.4882 0.3523 126 0.2933 2476 2602 91 2.4882-2.5878 0.3489 135 0.2679 2545 2680 94 2.5878-2.7054 0.3378 120 0.2777 2571 2691 94 2.7054-2.848 0.3037 134 0.2765 2574 2708 95 2.848-3.0262 0.361 144 0.2759 2668 2812 97 3.0262-3.2596 0.2877 176 0.2316 2629 2805 98 3.2596-3.5871 0.2171 149 0.195 2700 2849 98 3.5871-4.1049 0.2389 153 0.1759 2703 2856 98 4.1049-5.1671 0.183 139 0.1545 2729 2868 98 5.1671-29.1754 0.2462 143 0.2133 2787 2930 96
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 3.1662 -0.9745 0.3408 2.1069 -0.2876 1.817 -0.0479 0.2268 -0.0912 -0.2154 -0.1457 -0.3565 0.297 0.289 0.0001 0.5756 0.1571 0.0391 0.4413 0.0556 0.4079 45.5835 53.3528 55.2615 2 0.2451 0.1667 -0.4523 0.501 0.0984 1.2192 0.0024 0.0043 0.1473 0.1072 -0.0504 -0.2711 -0.1013 0.2556 -0.0003 0.271 0.0132 -0.0819 0.3975 0.0351 0.3701 34.8118 93.8393 50.4063 3 2.5285 -0.2007 -0.119 2.0684 -0.3586 1.9494 0.0778 0.1986 -0.408 -0.2091 -0.0341 0.3203 0.7742 -0.1951 0.0001 0.5758 -0.0634 -0.0659 0.3004 -0.0339 0.4087 20.3373 46.9042 63.6106 4 0.5234 -0.2466 -0.0917 0.6757 0.6543 1.9297 -0.1209 -0.098 0.0139 -0.3119 -0.3118 0.2442 -0.1453 -0.3144 0.0001 0.2113 -0.0501 0.0176 0.4439 0.0098 0.3848 25.2889 71.9616 98.7476
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 chain A and (resid 1:62 or resid 144:219)A1 - 62 2 X-RAY DIFFRACTION 1 chain A and (resid 1:62 or resid 144:219)A144 - 219 3 X-RAY DIFFRACTION 2 chain A and (resid 73:132)A73 - 132 4 X-RAY DIFFRACTION 3 chain B and (resid 1:62 or resid 144:219)B1 - 62 5 X-RAY DIFFRACTION 3 chain B and (resid 1:62 or resid 144:219)B144 - 219 6 X-RAY DIFFRACTION 4 chain B and (resid 73:132)B73 - 132