ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 3FQ3解像度 : 2→36.63 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.958 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.939 / SU B : 10.512 / SU ML : 0.128 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.17 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23 3442 5 % RANDOM Rwork 0.185 - - - obs 0.187 68364 95.85 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 33.502 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.36 Å2 0.2 Å2 1.38 Å2 2- - -0.42 Å2 0.21 Å2 3- - - 2.09 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→36.63 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 7936 0 54 296 8286
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 16) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.022 8255 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 5365 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.446 1.972 11298 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.886 3 13194 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.793 5 1051 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg39.922 24.89 364 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.48 15 1239 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.01 15 30 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.083 0.2 1256 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.021 9317 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 1573 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.771 1.5 5195 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.186 1.5 2072 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.429 2 8398 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.238 3 3060 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.598 4.5 2888
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / 数 : 2103 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position ALOOSE POSITIONAL0.23 5 BLOOSE POSITIONAL0.2 5 CLOOSE POSITIONAL0.25 5 DLOOSE POSITIONAL0.21 5 ELOOSE POSITIONAL0.27 5 FLOOSE POSITIONAL0.23 5 ALOOSE THERMAL2.29 10 BLOOSE THERMAL1.49 10 CLOOSE THERMAL1.49 10 DLOOSE THERMAL1.58 10 ELOOSE THERMAL2.03 10 FLOOSE THERMAL1.61 10
LS精密化 シェル 解像度 : 2→2.052 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.32 246 - Rwork 0.261 4759 - all - 5005 - obs - - 95.26 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.1061 -0.0105 0.0386 1.3797 0.2067 0.7321 -0.0235 -0.1108 0.1701 0.0706 -0.0083 0.0604 -0.0177 -0.0734 0.0318 0.0457 0.0281 0.0079 0.0435 -0.0456 0.115 -14.338 39.475 -21.736 2 1.8658 -0.0711 -0.1774 1.04 0.577 1.0622 0.0442 0.3863 -0.1205 -0.0519 -0.1463 0.2123 -0.0791 -0.1723 0.1021 0.0177 0.0058 -0.0086 0.1745 -0.0979 0.1082 -22.061 18.406 -46.79 3 1.5503 -0.4159 0.0138 0.9726 -0.3862 0.8895 -0.0071 -0.1827 0.2679 0.0599 -0.0093 -0.1666 -0.0697 0.0566 0.0164 0.014 0.0011 -0.0122 0.0755 -0.0548 0.1313 17.415 29.693 -22.916 4 0.9342 -0.2714 -0.4418 1.0399 -0.0156 1.4872 0.0101 0.1176 -0.1544 -0.1548 -0.0919 0.0006 0.1361 -0.0444 0.0818 0.0557 0.0285 0.0196 0.0636 -0.0419 0.0841 9.438 7.653 -47.846 5 1.302 -0.1864 0.4405 0.8768 -0.0091 1.2407 0.042 0.3574 0.3138 -0.1619 -0.0848 -0.1642 -0.0672 0.0917 0.0429 0.1044 0.0455 0.055 0.1124 0.088 0.1505 2.646 39.953 -51.372 6 1.3938 -0.2064 -0.36 0.8343 0.3213 0.9646 -0.0993 -0.1775 -0.2891 0.1629 0.015 0.0832 0.1346 0.0209 0.0842 0.0783 -0.0094 0.0547 0.047 0.0353 0.1339 -6.873 7.45 -17.907
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A2 - 174 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 174 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C3 - 174 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D3 - 174 5 X-RAY DIFFRACTION 5 E3 - 174 6 X-RAY DIFFRACTION 6 F3 - 174