ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MD2データ収集 HKL-3000位相決定 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 Cootモデル構築 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : フーリエ合成開始モデル : PDB entry 3IJW解像度 : 2.05→50 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.945 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.909 / SU B : 9.31 / SU ML : 0.133 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.216 / ESU R Free : 0.189 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.24547 1733 5 % RANDOM Rwork 0.18966 - - - obs 0.19237 32867 99.39 % - all - 32867 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 31.499 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.01 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.54 Å2 0 Å2 3- - - 0.53 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.05→50 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4087 0 115 255 4457
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.022 4305 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 2872 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.341 1.979 5861 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.859 3 7017 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.12 5 529 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.582 24.104 173 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.785 15 714 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.643 15 25 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.07 0.2 657 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.005 0.021 4712 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 845 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.55 1.5 2632 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.138 1.5 1074 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.069 2 4278 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.207 3 1673 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.31 4.5 1583 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID 数 タイプ Rms dev position (Å)Weight position A1537 medium positional0.14 0.5 A1812 loose positional0.35 5 B1537 medium thermal0.5 2 B1812 loose thermal0.58 10
LS精密化 シェル 解像度 : 2.05→2.103 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.351 140 - Rwork 0.265 2235 - obs - - 94.7 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.0344 0.8454 -0.2792 2.772 -0.4493 1.1308 0.0502 -0.0957 -0.3206 0.1155 -0.2337 -0.3084 0.0643 0.1933 0.1835 0.0205 0.014 -0.0106 0.1215 0.0601 0.1828 14.87 5.531 2.661 2 1.9394 0.9318 -0.4914 2.1988 -0.2282 1.2351 -0.0647 0.1965 -0.36 -0.1305 0.0545 -0.1047 0.0312 -0.0305 0.0102 0.0131 0.011 -0.01 0.0666 -0.0443 0.1209 12.914 8.912 -9.441 3 0.8375 1.0013 0.0106 2.8633 -0.49 3.421 -0.0656 -0.1372 -0.3776 0.0508 -0.196 -0.2565 0.1119 0.4406 0.2616 0.084 -0.0006 0.0122 0.2535 0.1395 0.2523 10.771 -7.463 14.566 4 0.9258 0.3187 -0.56 1.8372 -0.9976 5.3719 0.0066 -0.3894 -0.2592 0.2352 -0.1674 -0.0856 0.0976 0.5631 0.1608 0.0993 -0.0306 -0.0123 0.365 0.1637 0.2291 8.186 -11.188 28.317
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A0 - 104 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A105 - 264 3 X-RAY DIFFRACTION 3 B1 - 122 4 X-RAY DIFFRACTION 4 B123 - 264