ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 CNS精密化 CrystalClearデータ収集 CrystalClearデータ削減 CrystalClearデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1U1I解像度 : 1.7→68.04 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.968 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.949 / SU B : 7.98 / SU ML : 0.121 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.127 / ESU R Free : 0.125 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.24345 2123 5 % RANDOM Rwork 0.1988 - - - obs 0.20104 40084 98.11 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 28.519 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.41 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 2.32 Å2 0 Å2 3- - - -1.91 Å2
Refine analyze Luzzati sigma a obs : 0.127 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→68.04 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3084 0 74 235 3393
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.016 0.022 3350 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.662 1.994 4552 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.748 5 425 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.75 24.315 146 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.214 15 593 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg13.737 15 15 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.104 0.2 493 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 2506 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.207 0.2 1653 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.306 0.2 2277 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.194 0.2 224 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.182 0.2 113 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.16 0.2 25 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.807 1.5 2001 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.303 2 3232 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.394 3 1394 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.465 4.5 1303 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.698→1.742 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.364 161 - Rwork 0.364 2846 - obs - - 94.95 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 5) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.866 0.1516 -0.0031 0.4029 -0.1411 0.7026 0.0736 -0.0103 -0.0351 -0.054 -0.0246 0.0456 0.1581 0.0968 -0.049 0.0232 0.0451 -0.008 -0.0492 0.0008 -0.0109 17.965 17.9453 9.6819 2 0.0867 -0.0454 0.1723 0.2468 -0.1519 1.1003 0.0073 -0.0679 -0.0634 0.0521 -0.0046 0.0399 -0.0156 0.0214 -0.0027 0.0041 0.0291 -0.0073 0.0117 0.0081 -0.0414 18.5072 22.3824 27.4973 3 0.0598 -0.0115 -0.0833 0.1957 -0.1671 0.2894 0.0542 -0.0047 0.0211 0.0462 -0.0552 0.05 -0.0236 0.1435 0.0009 0.0233 -0.0002 -0.0155 -0.0304 0.0028 0.0115 21.2858 38.0139 15.5768 4 0.9771 0.6725 -0.9161 2.8637 -1.903 1.5333 -0.0572 -0.0283 0.0353 0.223 0.1506 0.0056 -0.1611 -0.0555 -0.0934 -0.0181 0.0261 -0.0197 0.0443 -0.0108 -0.0606 10.8043 39.3736 19.5425 5 0.0504 -0.0371 0.0301 0.0631 -0.1417 0.4178 0.0338 0.0057 -0.0002 0.0113 -0.0587 0.0336 -0.01 0.118 0.0249 0.0149 0.0017 -0.0047 -0.0413 0.0031 0.023 19.016 38.5886 8.8993
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 75 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A76 - 188 3 X-RAY DIFFRACTION 3 A189 - 258 4 X-RAY DIFFRACTION 4 A259 - 286 5 X-RAY DIFFRACTION 5 A287 - 392