解像度: 1.8→1.846 Å / 冗長度: 6.3 % / Rmerge(I) obs: 0.748 / Mean I/σ(I) obs: 1.61 / Num. unique all: 2133 / % possible all: 98.55
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SBC-Collect
データ収集
HKL-3000
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.8→54.96 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.961 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.948 / SU B: 3.211 / SU ML: 0.053 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(I): 1 / ESU R: 0.088 / ESU R Free: 0.087 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.18913
1486
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.16561
-
-
-
obs
0.16677
27750
99.86 %
-
all
-
27789
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 20.23 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.27 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.27 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.54 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.8→54.96 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1360
0
5
241
1606
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.017
0.022
1392
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
945
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.485
1.964
1882
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.993
3
2334
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.842
5
177
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
31.553
26.429
56
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
12.632
15
247
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
10.165
15
2
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.092
0.2
207
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
1536
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
250
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.229
0.2
368
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.179
0.2
1013
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.173
0.2
719
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.087
0.2
625
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.193
0.2
307
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.243
0.2
25
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.218
0.2
32
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.18
0.2
54
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.399
1.5
1127
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.261
1.5
363
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.665
2
1413
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.177
3
612
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
4.253
4.5
469
LS精密化 シェル
解像度: 1.799→1.846 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.219
99
-
Rwork
0.246
2003
-
obs
-
2102
98.55 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 2.5995 Å / Origin y: 17.1266 Å / Origin z: 33.8102 Å