ソフトウェア 名称 バージョン 分類 ADSCQuantumデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0102精密化 XDSデータ削減 XSCALEデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1SEN解像度 : 1.83→45.62 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.945 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.907 / SU B : 5.642 / SU ML : 0.088 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.143 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2326 1228 5 % RANDOM Rwork 0.17697 - - - obs 0.17968 23102 99.06 % - all - 24330 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 15.492 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.33 Å2 0 Å2 0.43 Å2 2- - 0.23 Å2 0 Å2 3- - - 0.21 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.83→45.62 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2207 0 0 290 2497
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.022 2255 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 1568 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.396 1.964 3046 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.915 3 3825 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.116 5 266 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg35.022 24.69 113 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.634 15 421 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg12.878 15 14 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.085 0.2 330 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.021 2456 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 438 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.739 1.5 1342 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.194 1.5 536 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.333 2 2176 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.178 3 913 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.53 4.5 870 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 1671 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position loose positional0.44 5 loose thermal1.26 10
LS精密化 シェル 解像度 : 1.83→1.877 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.257 82 - Rwork 0.2 1706 - obs - - 98.51 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7336 0.0084 -0.1311 0.4646 -0.0139 0.7632 0.0337 0.0744 0.0148 -0.0214 -0.0243 -0.0518 -0.0239 -0.0468 -0.0093 0.0037 0.007 0.005 0.0142 0.0085 0.0102 13.957 38.07 41.82 2 0.881 -0.0949 -0.0453 0.4326 0.1073 0.7583 0.0112 -0.0622 -0.0119 0.0172 0.0246 0.0271 -0.003 0.0352 -0.0358 0.0011 0.0001 0.0022 0.0079 0.004 0.0119 13.269 43.79 63.481
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A31 - 127 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B31 - 127