ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show StructureStudioデータ収集 XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 3OQ8解像度 : 2.35→47.6 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.942 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.901 / SU B : 15.289 / SU ML : 0.162 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.235 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23 3991 5 % RANDOM Rwork 0.178 - - - all 0.18 80134 - - obs 0.18 79682 99.46 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 22.264 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.12 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.38 Å2 0 Å2 3- - - -0.74 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.35→47.6 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 12879 0 80 687 13646
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 16) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.022 13285 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 8853 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.246 1.949 17998 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.879 3 21479 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.671 5 1703 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.778 24.029 623 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.061 15 2081 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.585 15 86 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.071 0.2 1939 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 15244 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 2802 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.431 1.5 8400 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.113 1.5 3461 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.818 2 13272 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.417 3 4885 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.34 4.5 4718
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / 数 : 5293 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position AMEDIUM POSITIONAL0.29 0.5 BMEDIUM POSITIONAL0.38 0.5 CMEDIUM POSITIONAL0.3 0.5 DMEDIUM POSITIONAL0.27 0.5 AMEDIUM THERMAL0.43 2 BMEDIUM THERMAL0.4 2 CMEDIUM THERMAL0.43 2 DMEDIUM THERMAL0.43 2
LS精密化 シェル 解像度 : 2.35→2.411 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.303 260 - Rwork 0.269 5524 - all - 5784 - obs - 5817 98.96 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2897 0.1617 0.0606 0.6342 -0.1837 0.9646 0.0057 0.0258 0.0153 0.0082 -0.0078 -0.0036 -0.2034 -0.0003 0.0021 0.0722 0.0126 0.0033 0.0074 -0.0009 0.0163 57.37 166.428 29.144 2 0.1882 0.0693 0.066 0.712 -0.3274 0.8776 0.0192 -0.0416 0.0015 0.0699 -0.112 -0.1517 0.0186 0.3112 0.0928 0.0312 0.0002 -0.0304 0.1393 0.0367 0.0632 78.057 148.254 46.434 3 0.1145 0.0917 -0.1318 0.4493 -0.2449 0.9386 -0.018 0.0241 0.0017 -0.0096 0.034 0.0743 0.2022 -0.1908 -0.0161 0.0751 -0.0594 0.0124 0.0566 0.0003 0.021 43.649 133.288 43.737 4 0.1368 0.1509 -0.1805 0.4087 -0.3125 1.242 -0.0488 0.0439 -0.0454 -0.155 -0.0036 -0.0469 0.3633 0.0295 0.0524 0.1941 0.0209 0.0343 0.0293 -0.0162 0.0218 61.08 131.45 16.168
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A3 - 450 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 450 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C3 - 450 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D3 - 450