ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB SHELX位相決定 Show BUSTER-TNTBUSTER 2.8.0精密化 Show SCALA3.3.15data processingShow PDB_EXTRACT3.1 データ抽出 Show MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング SHELXD位相決定 autoSHARP位相決定 BUSTER2.8.0精密化
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.55→29.466 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.9603 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.9495 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.2 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.19 2286 5.04 % RANDOM Rwork 0.1646 - - - obs 0.1659 45381 - -
原子変位パラメータ Biso max : 100.62 Å2 / Biso mean : 21.216 Å2 / Biso min : 6.43 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.7679 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.4268 Å2 0 Å2 3- - - 1.3411 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.55→29.466 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2527 0 24 489 3040
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ 数 Restraint function Weight Dev ideal X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d1385 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planes85 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes443 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it2869 HARMONIC20 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion370 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact3809 SEMIHARMONIC4 X-RAY DIFFRACTION t_bond_d2869 HARMONIC2 0.01 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg3935 HARMONIC2 1.02 X-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion4.36 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion2.66
LS精密化 シェル 解像度 : 1.55→1.59 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.2494 175 5.31 % Rwork 0.2186 3122 - all 0.2202 3297 -
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 35.2493 Å / Origin y : 44.684 Å / Origin z : 25.3416 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0033 Å2 0.0006 Å2 -0.0005 Å2 - -0.0458 Å2 0.0029 Å2 - - -0.0354 Å2 L 0.2113 °2 -0.107 °2 -0.0347 °2 - 0.3671 °2 0.2404 °2 - - 0.564 °2 S -0.0041 Å ° -0.0232 Å ° 0.0189 Å ° 0.039 Å ° -0.0084 Å ° -0.0022 Å ° -0.0215 Å ° -0.0118 Å ° 0.0124 Å °