ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show StructureStudioデータ収集 XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 3EOL解像度 : 2.25→39.2 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.922 / SU B : 10.272 / SU ML : 0.115 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.185 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.199 4530 5 % RANDOM Rwork 0.149 - - - all 0.151 91893 - - obs 0.151 90916 98.97 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 16.324 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.56 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.47 Å2 0 Å2 3- - - -1.03 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.25→39.2 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 12903 0 81 1177 14161
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 16) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.017 0.022 13318 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 8934 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.494 1.948 18025 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.951 3 21684 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.013 5 1710 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.489 24.084 622 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.625 15 2116 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.468 15 84 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.088 0.2 1936 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 15250 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 2798 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.604 1.5 8430 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.204 1.5 3474 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.108 2 13329 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.145 3 4888 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.426 4.5 4685
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Ens-ID : 1 / 数 : 5231 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position AMEDIUM POSITIONAL0.23 0.5 BMEDIUM POSITIONAL0.32 0.5 CMEDIUM POSITIONAL0.28 0.5 DMEDIUM POSITIONAL0.23 0.5 AMEDIUM THERMAL0.66 2 BMEDIUM THERMAL0.64 2 CMEDIUM THERMAL0.65 2 DMEDIUM THERMAL0.65 2
LS精密化 シェル 解像度 : 2.25→2.308 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.274 314 - Rwork 0.197 6331 - all - 6645 - obs - 6683 99.09 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.155 0.0439 0.0678 0.3177 -0.112 0.3474 -0.006 0.0064 0.0401 -0.0019 0.0046 -0.0106 -0.0677 -0.0156 0.0014 0.0281 0.0098 -0.0023 0.0137 -0.0068 0.0296 57.732 166.355 29.483 2 0.1272 0.0574 0.009 0.3579 -0.1353 0.4331 0.0043 -0.0239 0 0.0389 -0.0436 -0.1039 0.0017 0.1209 0.0393 0.0068 -0.0015 -0.0181 0.0597 0.0155 0.0557 78.437 148.117 46.325 3 0.0931 0.0469 -0.0481 0.2529 -0.0735 0.4205 -0.0021 -0.0015 -0.0044 0.0106 0.0137 0.0398 0.0573 -0.0806 -0.0116 0.0132 -0.0191 -0.0013 0.0411 0.0026 0.0177 43.829 133.482 43.379 4 0.1322 0.0487 -0.0777 0.1925 -0.1322 0.5203 -0.0227 0.0393 -0.0402 -0.0813 0.0012 -0.0445 0.1145 0.0172 0.0215 0.071 0.0074 0.0167 0.0228 -0.0139 0.0193 61.387 131.417 16.036
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 501 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 501 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C1 - 501 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D1 - 501