ソフトウェア 名称 バージョン 分類 StructureStudioデータ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 XDSデータ削減 XSCALEデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 1wn5解像度 : 1.7→46.3 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.96 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.94 / SU B : 3.703 / SU ML : 0.057 / Isotropic thermal model : isotropic, TLS / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.098 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THERfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.189 2587 5.1 % RANDOM Rwork 0.151 - - - obs 0.153 50841 99.2 % - all - 51288 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.44 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.6 Å2 0 Å2 0.24 Å2 2- - 0.63 Å2 0 Å2 3- - - 0.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→46.3 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3798 0 25 415 4238
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 3980 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 2572 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.428 1.968 5449 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.948 3 6341 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.1 5 559 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg30.247 24.113 141 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg11.489 15 588 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg23.062 15 21 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.087 0.2 651 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.021 4560 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.004 0.02 753 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.794 1.5 2674 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.243 1.5 1101 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.293 2 4289 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.057 3 1306 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.296 4.5 1144 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.7→1.74 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.257 155 - Rwork 0.238 3259 - obs - - 90.58 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7804 -0.2175 -0.0085 0.3546 0.0723 0.5703 0.0355 -0.066 0.1057 -0.006 -0.0273 0.0172 -0.0444 -0.0156 -0.0082 0.0109 -0.0037 0.0105 0.0155 -0.0262 0.06 24.109 15.845 61.523 2 0.5442 -0.2514 -0.0734 0.4292 0.1314 0.8693 -0.0333 -0.1817 0.0281 0.0354 0.0181 0.0312 0.0394 -0.0491 0.0152 0.0224 -0.0107 0.0044 0.1146 -0.0203 0.0084 26.135 3.929 82.365 3 0.517 -0.2199 -0.0645 0.634 -0.1623 0.5446 -0.0282 -0.0995 -0.0745 0.0281 0.027 0.0302 0.0922 0.046 0.0012 0.0486 0.0044 0.0057 0.0348 0.0218 0.0184 38.861 -11.718 72.205 4 0.6098 0.0045 -0.318 0.7076 0.0844 0.4261 0.0134 -0.0085 -0.0011 -0.0481 -0.0196 -0.0221 0.0371 -0.0117 0.0062 0.0182 0.0031 -0.0049 0.009 -0.0089 0.0409 40.802 3.536 53.169
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A-10 - 9999 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B-10 - 9999 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C-10 - 9999 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D-10 - 9999