モノクロメーター: SI(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.075 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→30 Å / Num. obs: 24917 / % possible obs: 96.6 % / 冗長度: 2 % / Rmerge(I) obs: 0.021 / Net I/σ(I): 29.1092
反射 シェル
解像度: 1.9→1.97 Å / 冗長度: 1.9 % / Rmerge(I) obs: 0.09 / Mean I/σ(I) obs: 5.739 / % possible all: 89.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CBASS
データ収集
COMO
位相決定
REFMAC
5.5.0102
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.9→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.958 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.934 / SU B: 7.063 / SU ML: 0.096 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.154 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23076
1265
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.17648
-
-
-
obs
0.17929
23604
96.6 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 26.659 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
2.41 Å2
0.5 Å2
1.28 Å2
2-
-
-1.85 Å2
0.01 Å2
3-
-
-
-1.25 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.9→30 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2531
0
8
208
2747
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.016
0.022
2574
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.477
1.982
3484
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
4.916
5
319
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
40.167
24.862
109
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.825
15
494
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
23.004
15
17
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.107
0.2
424
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.021
1853
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0.897
1.5
1605
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.7
2
2615
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.978
3
969
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
4.945
4.5
869
X-RAY DIFFRACTION
r_rigid_bond_restr
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_free
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル
解像度: 1.9→2.002 Å / Total num. of bins used: 10
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.263
179
-
Rwork
0.201
3288
-
obs
-
-
91.67 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: -0.3095 Å / Origin y: -0.6018 Å / Origin z: 0.7643 Å