タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2007年6月1日 / 詳細: slits and mirrors
放射
モノクロメーター: horizontally deflecting and focusing crystal preceded by a vertically focusing mirror. プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.98009 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.8→50 Å / Num. all: 42656 / Num. obs: 42602 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 6.5 % / Biso Wilson estimate: 45.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.141 / Rsym value: 0.128 / Net I/σ(I): 11.9
反射 シェル
解像度: 2.8→2.9 Å / 冗長度: 4.2 % / Rmerge(I) obs: 0.455 / Rsym value: 0.421 / % possible all: 9.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SOLVE
位相決定
CNS
1.2
精密化
HKL-2000
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Isopropanol bound structure 解像度: 2.8→19.93 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 2050435.46 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 詳細: BULK SOLVENT MODEL USED