ソフトウェア 名称 バージョン 分類 ADSCQuantumデータ収集 REFMAC5.5.0109精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 2D1E解像度 : 1.3→26.21 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.968 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.958 / SU B : 1.381 / SU ML : 0.029 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.053 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.19144 3271 5.1 % RANDOM Rwork 0.16869 - - - obs 0.16982 61469 89.84 % - all - 72061 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 16.215 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.74 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.73 Å2 -0 Å2 3- - - 0.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.3→26.21 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1927 0 99 287 2313
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.017 0.022 2290 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.043 2.006 3123 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.347 5 302 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg33.838 24.696 115 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.399 15 415 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.688 15 16 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.099 0.2 323 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.011 0.021 1787 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.01 1.5 1313 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.749 2 2156 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.531 3 977 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.899 4.5 939 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.3→1.334 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.242 192 - Rwork 0.228 3967 - obs - - 78.68 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.1151 0.1574 1.33 3.1739 0.229 1.1939 0.1527 -0.2899 0.0311 0.1346 -0.1455 0.1798 0.1741 -0.1931 -0.0073 0.0662 -0.0194 0.0174 0.1047 0.0076 0.0175 -11.5533 -32.5642 33.2865 2 0.6368 -0.4053 0.0223 0.4621 0.0737 0.0677 0.039 -0.0126 -0.0679 0.0126 -0.0341 0.0064 0.0125 -0.0417 -0.0049 0.0315 -0.0003 -0.0031 0.0237 -0.0032 0.0694 -12.5369 -36.2119 22.0889 3 0.6461 0.0108 0.0432 0.0001 0.0936 0.4202 0.0184 0.0463 0.0572 0.0051 -0.0196 -0.0248 -0.0286 -0.0382 0.0012 0.0375 0.0046 0.0029 0.0326 0.0028 0.0487 -9.9048 -19.849 16.1604 4 0.4417 0.0329 0.2675 1.3627 -0.4918 0.3393 0.0492 0.0522 -0.0402 -0.0397 -0.0092 -0.0197 -0.0139 0.0168 -0.04 0.0408 0.0192 0.0166 0.0201 0 0.0708 0.2995 -37.9475 14.7989
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A6 - 22 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A23 - 81 3 X-RAY DIFFRACTION 3 A82 - 217 4 X-RAY DIFFRACTION 4 A218 - 247