ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0102精密化 d*TREKデータ削減 d*TREKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 3KGK解像度 : 2.05→40.46 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.915 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.892 / SU B : 13.46 / SU ML : 0.167 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.243 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.32419 686 5 % RANDOM Rwork 0.27098 - - - obs 0.27351 13712 97.72 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 37.96 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.88 Å2 0 Å2 1.52 Å2 2- - -2.05 Å2 0 Å2 3- - - 3.34 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.05→40.46 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1534 0 6 113 1653
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.023 0.022 1568 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.992 1.979 2115 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.374 5 192 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg42.865 25.072 69 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg19.267 15 278 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.935 15 8 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.141 0.2 236 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.021 1164 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.129 1.5 973 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.966 2 1558 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.148 3 595 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.7 4.5 557 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.05→2.103 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.324 53 - Rwork 0.297 945 - obs - - 98.52 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 6.1826 -5.4877 7.3467 8.8639 -6.9792 10.3233 -0.1702 0.0812 0.0125 0.2976 0.0223 0.4128 -0.1304 0.1189 0.1479 0.1639 -0.0201 0.0302 0.1697 0.028 0.0946 8.9193 -1.2231 17.5849 2 2.3382 -0.7364 -0.5707 3.1301 0.553 1.3931 -0.093 0.0289 -0.1728 0.0353 0.0004 0.2384 0.2257 -0.0124 0.0925 0.153 -0.0067 -0.0261 0.1076 0.0019 0.0392 10.7563 -1.404 13.0067 3 7.9864 -6.1839 -2.0795 8.8351 -0.7187 1.5521 0.0153 0.3362 0.2949 0.404 -0.2904 -0.1677 -0.0301 -0.1218 0.2751 0.1691 0.0288 0.0278 0.189 -0.0635 0.3088 20.9809 19.4637 11.0183 4 1.4043 -0.0439 0.1442 1.973 -0.9728 2.9857 0.0323 0.0392 0.1984 -0.1149 0.024 -0.1022 -0.013 0.1019 -0.0564 0.0924 -0.0065 -0.0062 0.0949 -0.0066 0.0437 19.7268 17.2054 7.3213
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 9 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A20 - 109 3 X-RAY DIFFRACTION 3 B1 - 10 4 X-RAY DIFFRACTION 4 B23 - 108