ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0102精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1KJT解像度 : 2.4→27.08 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.929 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.902 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.324 / ESU R Free : 0.255 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.27309 765 5 % RANDOM Rwork 0.23112 - - - obs 0.23329 14385 92.63 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 48.688 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.19 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.19 Å2 0 Å2 3- - - -0.37 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.4→27.08 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1950 0 0 59 2009
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.024 0.022 1996 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.941 1.965 2684 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.638 5 229 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.567 23.048 105 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg21.687 15 363 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg21.318 15 16 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.155 0.2 274 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.021 1536 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it2.028 1.5 1158 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it3.303 2 1878 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.821 3 838 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.419 4.5 806 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.4→2.463 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.283 56 - Rwork 0.308 1029 - obs - - 90.27 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.0659 1.162 -0.2909 2.7403 0.0712 1.0896 0.0681 0.1502 0.2631 -0.0882 0.1312 0.0425 -0.0349 0.2796 -0.1993 0.1996 -0.0842 0.0273 0.183 0.0086 0.0922 -37.716 16.649 -0.348 2 5.2018 -2.7539 -0.9256 3.9422 0.6646 1.4713 0.5268 0.5078 0.4893 -0.2507 -0.3175 -0.2676 -0.1773 -0.3335 -0.2093 0.2535 0.1009 0.065 0.1813 0.062 0.0585 -56.335 16.301 16.786
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A5 - 85 2 X-RAY DIFFRACTION 1 A89 - 110 3 X-RAY DIFFRACTION 2 B5 - 85 4 X-RAY DIFFRACTION 2 B89 - 110