温度: 303 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 5 詳細: 0.1 M phosphate-citrate pH 5, 0.2 M NaCl, 16% PEG 8000, 1M Guanidium hydrochloride, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP, temperature 303K
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
78
1
2
78
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長 (Å)
シンクロトロン
APS
21-ID-G
1
0.97872
シンクロトロン
APS
21-ID-D
2
0.97915
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
詳細
RAYONIX MX-225
1
CCD
2008年4月23日
berylliumlenses
RAYONIX MX-225
2
CCD
2008年4月23日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
silicon
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
2
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97872
1
2
0.97915
1
反射
解像度: 2.6→29.5 Å / Num. all: 28160 / Num. obs: 28151 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 8.1 % / Biso Wilson estimate: 42.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.079 / Rsym value: 0.074 / Net I/σ(I): 19
反射 シェル
解像度: 2.6→2.72 Å / 冗長度: 6 % / Rmerge(I) obs: 0.572 / Mean I/σ(I) obs: 3.2 / Num. unique all: 3331 / Rsym value: 0.522 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MD2-microdiffractometer
データ収集
SHARP
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.6→29.14 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.928 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.898 / SU B: 28.292 / SU ML: 0.279 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.963 / ESU R Free: 0.363 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.28883
1438
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.24132
-
-
-
all
0.24371
28151
-
-
obs
0.24371
26710
99.96 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 55.918 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
2.02 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
2.02 Å2
0 Å2
3-
-
-
-4.04 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.6→29.14 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
5967
0
15
30
6012
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.011
0.022
6092
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
4314
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.203
1.98
8241
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.89
3.001
10376
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.538
5
722
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
34.326
22.822
326
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
17.444
15
1102
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.828
15
81
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.067
0.2
906
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.003
0.02
6728
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
1297
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.226
0.2
1527
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.185
0.2
4572
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.179
0.2
3020
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.085
0.2
3361
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.15
0.2
148
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.202
0.2
39
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.263
0.2
86
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.16
0.2
7
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0.522
1.5
4780
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.086
1.5
1453
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
0.58
2
5886
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
0.968
3
2805
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
1.464
4.5
2355
Refine LS restraints NCS
Dom-ID: 1 / Auth asym-ID: B / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION