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基本情報
登録情報
データベース: PDB / ID: 3lde
タイトル
High resolution open MthK pore structure crystallized in 100 mM K+ and further soaked in 100 mM Na+.
要素
Calcium-gated potassium channel mthK
キーワード
TRANSPORT PROTEIN / transmembrane / ion channel / open conformation / potassium / ion transport / Alternative initiation / Cell membrane / Ionic channel / Membrane / Metal-binding / Potassium transport / Transport
機能・相同性
機能・相同性情報
monoatomic cation transmembrane transporter activity / potassium ion transport / metal ion binding / identical protein binding / plasma membrane 類似検索 - 分子機能
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9786 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.2→50 Å / Num. obs: 4536 / % possible obs: 99.4 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 10.4 % / Biso Wilson estimate: 40.2 Å2 / Rsym value: 0.114 / Net I/σ(I): 37.4
反射 シェル
解像度: 2.2→2.24 Å / 冗長度: 9.7 % / Mean I/σ(I) obs: 3.2 / Num. unique all: 214 / Rsym value: 0.978 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHASES
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: MthK pore crystallized in 100 mM K+ 解像度: 2.208→31.02 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.944 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.945 / SU B: 10.223 / SU ML: 0.126 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.323 / ESU R Free: 0.193 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20757
434
9.6 %
RANDOM
Rwork
0.20204
-
-
-
obs
0.20257
4081
100 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 40.23 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.09 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.09 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.18 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.208→31.02 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
640
0
4
27
671
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.011
0.022
663
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.113
1.954
911
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
4.395
5
81
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
21.126
21.364
22
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
15.387
15
96
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
6.824
15
2
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.077
0.2
114
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.004
0.02
480
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.21
0.2
352
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.315
0.2
487
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.136
0.2
28
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.005
0.2
1
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.305
0.2
67
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.073
0.2
3
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
0.003
0.2
3
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0.486
1.5
405
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
0.897
2
663
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
1.424
3
273
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
2.266
4.5
248
X-RAY DIFFRACTION
r_rigid_bond_restr
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_free
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル
解像度: 2.208→2.265 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.273
40
-
Rwork
0.228
279
-
obs
-
-
100 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 17.4382 Å / Origin y: -3.2797 Å / Origin z: 18.2111 Å