由来: シンクロトロン / サイト: MAX II / ビームライン: I911-5 / 波長: 0.90778 Å
検出器
タイプ: MAR CCD 165 mm / 検出器: CCD / 日付: 2009年4月1日 / 詳細: Multilayer mirror
放射
モノクロメーター: Bent diamond crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.90778 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.6→20 Å / Num. obs: 50801 / % possible obs: 92.5 % / 冗長度: 4.7 % / Rmerge(I) obs: 0.056 / Net I/σ(I): 21.61
反射 シェル
解像度: 1.6→1.7 Å / 冗長度: 4.7 % / Rmerge(I) obs: 0.38 / Mean I/σ(I) obs: 4.45 / Num. unique all: 7327 / % possible all: 85
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MAR345
データ収集
PHENIX
モデル構築
REFMAC
5.5.0072
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: Solved with MAD, refined against native data set 解像度: 1.6→15 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.947 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.17 / SU B: 4.732 / SU ML: 0.074 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.139 / ESU R Free: 0.103 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: The structure was refined also with Phenix
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23321
2648
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1816
-
-
-
all
0.229
52013
-
-
obs
0.18412
49365
99.2 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK