プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.0039 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.15→39.042 Å / Num. obs: 29078 / % possible obs: 98.2 % / 冗長度: 5.4 % / Rmerge(I) obs: 0.07 / Net I/σ(I): 17.5 / Num. measured all: 109568
反射 シェル
解像度: 3.15→3.32 Å / 冗長度: 5.4 % / Rmerge(I) obs: 0.391 / Mean I/σ(I) obs: 4.4 / % possible all: 98
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHARP
位相決定
REFMAC
5.4
精密化
CNS
1
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 3.15→15 Å / SU ML: 0.73 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.59 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: CNS 1.0 was also used in refinement.; THE FRIEDEL PAIRS WERE USED FOR phasing.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.281
1457
5.01 %
RANDOM
Rwork
0.262
-
-
-
obs
-
29078
97.97 %
-
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 20.242 Å2 / ksol: 0.273 e/Å3