ソフトウェア 名称 分類 BOSデータ収集 CNS精密化 d*TREKデータ削減 CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 1U8D解像度 : 1.7→19.93 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 1593677.24 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.234 1555 7.3 % RANDOM Rwork 0.216 - - - obs 0.216 21327 99.6 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 42.6426 Å2 / ksol : 0.4 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 28.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.02 Å2 0 Å2 -1.8 Å2 2- - -2.73 Å2 0 Å2 3- - - 0.71 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.24 Å 0.22 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.19 Å 0.17 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→19.93 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 1422 99 242 1763
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.003 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.9 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d21.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.38 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.7→1.81 Å / Rfactor Rfree error : 0.02 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.319 247 7.1 % Rwork 0.303 3242 - obs - - 99.1 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 water_rep.paramwater_rep.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep_revise.param dna-rna_rep_revise.top X-RAY DIFFRACTION 3 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 4 cohex_rep.paramcohex_rep.topX-RAY DIFFRACTION 5 6CG.param6CG.top