タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2008年1月10日 / 詳細: APS Beamline 23-ID-D
放射
モノクロメーター: APS Beamline 23-ID-D / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97934 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→50 Å / Num. all: 19447 / Num. obs: 18683 / % possible obs: 96.1 % / 冗長度: 2.9 % / Rsym value: 0.069 / Net I/σ(I): 12.5
反射 シェル
解像度: 1.8→1.86 Å / 冗長度: 2.5 % / Mean I/σ(I) obs: 2.2 / Rsym value: 0.376 / % possible all: 88.3
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
Blu-Ice
データ収集
AMoRE
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.8→49.81 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.931 / SU B: 6.68 / SU ML: 0.103 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.164 / ESU R Free: 0.152 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2386
957
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1859
-
-
-
obs
0.18862
17702
96.43 %
-
all
-
19447
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK