ソフトウェア 名称 バージョン 分類 SBC-Collectデータ収集 HKL-3000位相決定 SHELXモデル構築 Cootモデル構築 MLPHARE位相決定 CCP4モデル構築 PHENIXモデル構築 REFMAC5.5.0054精密化 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング SHELX位相決定 CCP4位相決定 PHENIX位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 2.2→35 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.959 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.943 / SU B : 13.205 / SU ML : 0.149 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 2 / σ(I) : 2 / ESU R : 0.238 / ESU R Free : 0.201 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.24384 1147 5.1 % RANDOM Rwork 0.19751 - - - all 0.202 22352 - - obs 0.19969 21205 98.66 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 36.68 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.82 Å2 0 Å2 2.4 Å2 2- - -2.9 Å2 0 Å2 3- - - 2.03 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.2→35 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2747 0 22 63 2832
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.02 0.022 2802 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 1991 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.77 1.971 3744 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.931 3 4853 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.628 5 335 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg27.74 24.47 132 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg16.37 15 569 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg19.144 15 19 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.095 0.2 407 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 3015 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 550 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.877 1.5 1683 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.208 1.5 690 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.637 2 2716 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.757 3 1119 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.314 4.5 1028 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.203→2.26 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.337 91 - Rwork 0.287 1386 - obs - - 88.71 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : -1.5921 Å / Origin y : 99.4929 Å / Origin z : 22.3001 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.066 Å2 0.0095 Å2 -0.0017 Å2 - 0.0756 Å2 -0.018 Å2 - - 0.0474 Å2 L 1.5845 °2 -0.0195 °2 -0.2556 °2 - 3.2462 °2 0.1231 °2 - - 0.765 °2 S -0.0539 Å ° -0.121 Å ° 0.1169 Å ° 0.1569 Å ° 0.1212 Å ° -0.3255 Å ° -0.0278 Å ° -0.041 Å ° -0.0673 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 B199 - 229 2 X-RAY DIFFRACTION 1 A199 - 230 3 X-RAY DIFFRACTION 1 B2005 - 5001 4 X-RAY DIFFRACTION 1 A2002 - 5001 5 X-RAY DIFFRACTION 1 B2 - 196 6 X-RAY DIFFRACTION 1 A3 - 196