ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.3→25 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.95 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.928 / SU B : 6.32 / SU ML : 0.152 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.259 / ESU R Free : 0.211 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23438 2273 7.1 % RANDOM Rwork 0.19349 - - - obs 0.1965 29552 92.15 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 32.651 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -2.84 Å2 0 Å2 -1.72 Å2 2- - 6.06 Å2 0 Å2 3- - - -3.67 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.3→25 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3856 0 16 192 4064
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.019 0.021 3941 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.58 1.959 5367 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg3.955 3 507 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg18.14 15 703 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.21 0.2 626 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 2937 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.203 0.3 1470 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.153 0.5 435 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.183 0.3 58 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.263 0.5 11 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.267 1.5 2527 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.275 2 4093 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.781 3 1414 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.97 4.5 1274 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.3→2.359 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 Rfree 0.248 105 Rwork 0.226 1588
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 3.1321 1.6788 0.9839 2.396 1.1804 2.7714 -0.1403 0.5459 -0.2344 -0.2708 0.2197 -0.0746 0.1063 0.024 -0.0794 0.0589 0.0079 0.0429 0.0358 -0.0263 0.0609 -9.8032 -7.7673 43.6417 2 4.9845 2.1489 3.4088 1.8501 1.7558 3.272 0.0726 0.2317 -0.3726 0.0188 0.1033 -0.3346 0.0909 0.4591 -0.1759 0.0593 0.0185 0.0369 0.1604 0.0023 0.1298 21.5115 10.7486 77.2592 3 2.9533 0.2805 0.4514 2.3106 1.8343 7.7437 0.016 0.093 -0.0435 0.0504 -0.039 -0.0541 -0.1192 -0.0686 0.023 0.2056 -0.0539 -0.0565 0.2071 0.0093 0.2016 41.9769 31.0642 119.0622
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA24 - 201 2 - 179 2 X-RAY DIFFRACTION 2 AA202 - 376 180 - 354 3 X-RAY DIFFRACTION 3 AA377 - 529 355 - 507