ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB CNS1.2 精密化 Show PDB_EXTRACT3.006 データ抽出 Show HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング PHASER位相決定
精密化 開始モデル : 3e5c Without SAM or ion or water解像度 : 2.9→19.81 Å / Rfactor Rfree error : 0.017 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0 / Data cutoff high absF : 1615854.68 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USED, REFMAC WAS ALSO USED FOR REFINEMENTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.259 229 4.7 % RANDOM Rwork 0.222 - - - obs 0.222 4922 99.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 54.2599 Å2 / ksol : 0.35 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 62.3 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -9.19 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -9.19 Å2 0 Å2 3- - - 18.38 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.3 Å 0.32 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.25 Å 0.34 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.9→19.81 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 1155 38 5 1198
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.753 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d18.7 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.47 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.9→3.08 Å / Rfactor Rfree error : 0.045 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.283 39 4.9 % Rwork 0.279 750 - obs - - 99.9 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 2 water_rep.paramdna-rna.top X-RAY DIFFRACTION 3 dna-rna_rep.param water.topX-RAY DIFFRACTION 4 gtp.paramgtp.topX-RAY DIFFRACTION 5 sah.paramsah.top