モノクロメーター: DIAMOND / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.45→50 Å / Num. obs: 44638 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -0.5 / 冗長度: 13 % / Rmerge(I) obs: 0.096 / Net I/σ(I): 5.4
反射 シェル
解像度: 2.45→2.54 Å / 冗長度: 10.3 % / Rmerge(I) obs: 0.87 / Mean I/σ(I) obs: 1.5 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELXD
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.45→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.943 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.919 / SU B: 9.261 / SU ML: 0.206 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.361 / ESU R Free: 0.263 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.27042
1385
3.1 %
RANDOM
Rwork
0.23091
-
-
-
obs
0.23211
43118
99.99 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK