プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.79997 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.1→40 Å / Num. obs: 97245 / % possible obs: 93 % / 冗長度: 2.489 % / Biso Wilson estimate: 12.936 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.069 / Net I/σ(I): 17.41
反射 シェル
解像度: 1.1→1.136 Å / 冗長度: 2.218 % / Rmerge(I) obs: 0.253 / Mean I/σ(I) obs: 4.4 / % possible all: 90.77
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
Phasing MAD set site
ID
Atom type symbol
B iso
Fract x
Fract y
Fract z
Occupancy
1
Os
35.662
0.566
0.876
0.047
0.369
2
Os
34.895
0.584
0.891
0.467
0.36
3
Os
48.825
0.904
0.69
0.358
0.203
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
データスケーリング
SOLVE
2.08
位相決定
RESOLVE
2.08
位相決定
SHELX
精密化
PDB_EXTRACT
3.005
データ抽出
XDS
データ削減
SHELX
位相決定
SHELXL-97
精密化
精密化
構造決定の手法: AB INITIO / 解像度: 1.1→40 Å / Num. parameters: 20985 / Num. restraintsaints: 26479 / 交差検証法: FREE R / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: ENGH AND HUBER 詳細: ANISOTROPIC SCALING APPLIED BY THE METHOD OF PARKIN, MOEZZI & HOPE, J.APPL.CRYST.28(1995)53-56 ANISOTROPIC REFINEMENT REDUCED FREE R (NO CUTOFF) BY ?