モノクロメーター: DOUBLE CRYSTAL / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97942 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→50 Å / Num. obs: 62447 / % possible obs: 93.1 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 6.7 % / Rsym value: 0.114 / Net I/σ(I): 18.623
反射 シェル
解像度: 2→2.07 Å / 冗長度: 4.8 % / Mean I/σ(I) obs: 1.585 / Rsym value: 0.637 / % possible all: 70.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.008→44.5 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.927 / SU B: 5.118 / SU ML: 0.135 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.157 / ESU R Free: 0.153 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.25248
3127
5 %
RANDOM
Rwork
0.21089
-
-
-
obs
0.21295
59243
92.92 %
-
all
-
62371
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK