ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2→60.3 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.951 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.928 / SU B : 9.093 / SU ML : 0.126 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.303 / ESU R Free : 0.229 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25 1455 5 % RANDOM Rwork 0.203 - - - obs 0.206 29350 67.04 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 41.816 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.01 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.01 Å2 0 Å2 3- - - -0.02 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→60.3 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4132 0 20 104 4256
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 16) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.022 4289 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 2826 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.366 1.966 5844 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.928 3 6899 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.252 5 566 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg35.773 22.727 176 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg16.656 15 719 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.12 15 43 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.083 0.2 709 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.005 0.02 4788 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.002 0.02 859 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.997 2 2741 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.462 2 1141 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it3.028 3 4458 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.621 2 1548 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.157 3 1375
Refine LS restraints NCS Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (7 x 24) 大きな表を隠す Ens-ID Dom-ID Auth asym-ID 数 タイプ Rms dev position (Å)Weight position 1 1 A521 TIGHT POSITIONAL0.02 0.05 1 1 C521 TIGHT POSITIONAL0.02 0 1 1 E521 TIGHT POSITIONAL0.02 0 1 1 A573 LOOSE POSITIONAL0.02 5 1 1 C573 LOOSE POSITIONAL0.02 0.01 1 1 E573 LOOSE POSITIONAL0.02 0 1 1 A521 TIGHT THERMAL0.11 0.5 1 1 C521 TIGHT THERMAL0.11 0 1 1 E521 TIGHT THERMAL0.1 0 1 1 A573 LOOSE THERMAL0.07 10 1 1 C573 LOOSE THERMAL0.07 0.02 1 1 E573 LOOSE THERMAL0.08 0 2 2 B517 TIGHT POSITIONAL0.02 0.05 2 2 D517 TIGHT POSITIONAL0.02 0 2 2 F517 TIGHT POSITIONAL0.02 0 2 2 B577 LOOSE POSITIONAL0.02 5 2 2 D577 LOOSE POSITIONAL0.02 0.01 2 2 F577 LOOSE POSITIONAL0.02 0 2 2 B517 TIGHT THERMAL0.12 0.5 2 2 D517 TIGHT THERMAL0.11 0 2 2 F517 TIGHT THERMAL0.11 0 2 2 B577 LOOSE THERMAL0.08 10 2 2 D577 LOOSE THERMAL0.08 0.02 2 2 F577 LOOSE THERMAL0.08 0
LS精密化 シェル 解像度 : 2.001→2.053 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.239 25 - Rwork 0.156 489 - all - 514 - obs - - 15.82 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : -19.9778 Å / Origin y : 22.7271 Å / Origin z : 24.0935 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0939 Å2 0.0031 Å2 -0.0068 Å2 - -0.0671 Å2 -0.0033 Å2 - - -0.108 Å2 L 1.0633 °2 -0.1175 °2 -0.0055 °2 - 1.076 °2 0.0219 °2 - - 0.4959 °2 S -0.0171 Å ° -0.0882 Å ° 0.0297 Å ° 0.0803 Å ° 0.0039 Å ° 0.0058 Å ° -0.0078 Å ° -0.002 Å ° 0.0132 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA3 - 92 3 - 92 2 X-RAY DIFFRACTION 1 BB3 - 92 3 - 92 3 X-RAY DIFFRACTION 1 CC3 - 92 3 - 92 4 X-RAY DIFFRACTION 1 DD3 - 92 3 - 92 5 X-RAY DIFFRACTION 1 EE3 - 92 3 - 92 6 X-RAY DIFFRACTION 1 FF3 - 92 3 - 92