温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 詳細: 28-30% PEG 3350, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 293K
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
100
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
タイプ
ID
波長 (Å)
回転陽極
RIGAKU FR-E+ SUPERBRIGHT
1
1.54
シンクロトロン
ALS
8.3.1
2
0.9796, 0.9797, 0.95373
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
詳細
RIGAKU RAXIS IV
1
IMAGE PLATE
2004年12月16日
Osmic Confocal Max-Flux optics
ADSC QUANTUM 210
2
CCD
2005年6月9日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
OsmicConfocalMaxFlux
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
Doubleflatcrystal, Si(111)
MAD
M
x-ray
1
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
1.54
1
2
0.9796
1
3
0.9797
1
4
0.95373
1
Reflection
冗長度: 8.2 % / Av σ(I) over netI: 10.5 / 数: 156671 / Rmerge(I) obs: 0.088 / Χ2: 0.87 / D res high: 1.99 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 19033 / % possible obs: 100
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
4.29
50
99.9
1
0.059
1.6
8.3
3.4
4.29
100
1
0.063
1.406
8.5
2.97
3.4
100
1
0.077
1.037
8.5
2.7
2.97
100
1
0.097
0.898
8.6
2.51
2.7
100
1
0.119
0.705
8.5
2.36
2.51
100
1
0.143
0.679
8.5
2.24
2.36
100
1
0.173
0.632
8.5
2.14
2.24
100
1
0.205
0.58
8.5
2.06
2.14
100
1
0.249
0.551
7.8
1.99
2.06
99.7
1
0.315
0.503
6.5
反射
解像度: 1.8→37.06 Å / Num. all: 24921 / Num. obs: 24921 / % possible obs: 99.1 % / Observed criterion σ(F): 0 / 冗長度: 9.5 % / Biso Wilson estimate: 25.1 Å2 / Limit h max: 34 / Limit h min: 0 / Limit k max: 34 / Limit k min: 0 / Limit l max: 50 / Limit l min: 0 / Observed criterion F max: 460920.71 / Observed criterion F min: 2.97 / Rmerge(I) obs: 0.05 / Net I/σ(I): 21.9
反射 シェル
解像度: 1.8→1.86 Å / 冗長度: 3.59 % / Rmerge(I) obs: 0.387 / Mean I/σ(I) obs: 3.3 / Num. unique all: 2272 / % possible all: 91.6