モノクロメーター: SI(111) DOUBLE CRYSTAL / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→50 Å / Num. obs: 97659 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 7 % / Biso Wilson estimate: 12.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.072 / Net I/σ(I): 25.9
反射 シェル
解像度: 1.55→1.58 Å / 冗長度: 6.8 % / Rmerge(I) obs: 0.438 / Mean I/σ(I) obs: 5.9 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
ADSC
Quantum
データ収集
SHELX
モデル構築
SOLVE
位相決定
RESOLVE
モデル構築
REFMAC
5.5.0109
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SHELX
位相決定
RESOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.55→31.31 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.966 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.954 / SU B: 1.292 / SU ML: 0.048 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.078 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.19826
4856
5 %
RANDOM
Rwork
0.16652
-
-
-
obs
0.16809
92736
99.89 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK