ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.1 データ抽出 Show HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1RTU解像度 : 0.96→31.05 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.978 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.975 / WRfactor Rfree : 0.125 / WRfactor Rwork : 0.116 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.25 / FOM work R set : 0.954 / SU B : 0.336 / SU ML : 0.009 / SU R Cruickshank DPI : 0.018 / SU Rfree : 0.018 / Isotropic thermal model : anisotropic / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R : 0.018 / ESU R Free : 0.018 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES: REFINED INDIVIDUALLYRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.127 2949 5 % RANDOM Rwork 0.117 - - - obs 0.118 58481 98.76 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso max : 48.82 Å2 / Biso mean : 6.48 Å2 / Biso min : 2.73 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.02 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.03 Å2 0 Å2 3- - - -0.05 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati sigma a 0.018 Å 0.018 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 0.96→31.05 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 870 0 24 166 1060
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.021 982 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.008 0.02 601 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.405 1.972 1358 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg3.562 3 1480 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.071 5 122 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.064 25.769 52 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.389 15 124 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg4.071 15 3 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.086 0.2 138 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.01 0.021 1143 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.003 0.02 194 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.122 1.5 601 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.287 1.5 241 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.691 2 972 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.16 3 381 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.803 4.5 385 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr0.735 3 1582
LS精密化 シェル 解像度 : 0.959→0.984 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.252 178 - Rwork 0.238 3571 - all - 3749 - obs - 3749 86.34 %