ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.4.0077精密化 CrystalClearデータ収集 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング SHELXS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 2.01→37.88 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.968 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.955 / SU B : 7.207 / SU ML : 0.088 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.117 / ESU R Free : 0.118 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2163 2969 5.1 % RANDOM Rwork 0.1813 - - - obs 0.1831 55681 99.42 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 25.374 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.01 Å2 0 Å2 -0 Å2 2- - 0.01 Å2 -0 Å2 3- - - -0.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.01→37.88 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3548 0 0 435 3983
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.022 3640 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.392 1.986 4952 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.054 5 456 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.064 24.722 144 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.913 15 600 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.48 15 14 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.11 0.2 544 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.022 2760 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.69 1.5 2300 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.247 2 3732 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.95 3 1340 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.132 4.5 1220 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.006→2.058 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.397 184 - Rwork 0.329 3866 - obs - - 93.71 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.7458 -0.5658 0.0788 3.1734 -0.1898 3.2009 0.0162 -0.0294 0.1091 -0.0722 -0.033 0.167 -0.1257 -0.0586 0.0169 0.0725 -0.0687 0.0142 0.0665 -0.023 0.066 -9.655 73.325 7.451 2 4.0128 1.764 1.6405 2.3589 0.9055 2.7728 0.2026 -0.1693 -0.1382 0.051 -0.1857 0.0804 0.0609 -0.0884 -0.017 0.2247 -0.1213 0.0524 0.1621 -0.0061 0.1263 -27.211 47.384 9.073
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A6 - 242 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B6 - 242