ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 2CWC解像度 : 1.6→34.53 Å / Rfactor Rfree error : 0.004 / Data cutoff high absF : 1090474.84 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.218 3411 10 % RANDOM Rwork 0.192 - - - obs 0.192 34187 99.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 41.6895 Å2 / ksol : 0.361531 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 18.6 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.19 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.07 Å2 0 Å2 3- - - 0.12 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.2 Å 0.17 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.1 Å 0.06 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→34.53 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2193 0 2 224 2419
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.004 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.1 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d19.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.78 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.11 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.69 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.99 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.6→1.7 Å / Rfactor Rfree error : 0.011 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.255 533 9.5 % Rwork 0.211 5081 - obs - - 100 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 3 water_rep.paramwater.top