プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.933 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.5→23.4 Å / Num. obs: 64980 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 3.5 % / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 9.2
反射 シェル
解像度: 1.5→1.58 Å / 冗長度: 3.5 % / Rmerge(I) obs: 0.8 / Mean I/σ(I) obs: 1.4 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0088
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: OTHER / 解像度: 1.5→23.37 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.966 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.946 / SU B: 3.688 / SU ML: 0.061 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.109 / ESU R Free: 0.09 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. U VALUES REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23262
3308
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.18233
-
-
-
obs
0.1848
61653
99.9 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK