プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→50 Å / Num. obs: 12665 / % possible obs: 96.9 % / Observed criterion σ(I): 11 / 冗長度: 29.2 % / Rmerge(I) obs: 0.1 / Net I/σ(I): 46.34
-
解析
ソフトウェア
名称: REFMAC / バージョン: 5.5.0047 / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: OTHER 開始モデル: NONE 解像度: 2.3→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.937 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.922 / SU B: 10.559 / SU ML: 0.122 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.269 / ESU R Free: 0.206 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.ATOM RECORD CONTAINS SUM OF TLS AND RESIDUAL B FACTORS. ANISOU RECORD CONTAINS SUM OF TLS AND RESIDUAL U FACTORS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22896
618
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.1929
-
-
-
obs
0.19471
11947
96.8 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK