ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3 データ抽出 Show DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.1→51.5 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.924 / SU B : 8.115 / SU ML : 0.119 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.24 / ESU R Free : 0.197 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.243 873 5.1 % RANDOM Rwork 0.197 - - - obs 0.2 17234 96.81 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 21.943 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.03 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.84 Å2 0 Å2 3- - - 0.81 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→51.5 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2009 0 39 161 2209
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.022 2155 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 1515 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.213 2.01 2943 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.909 3.001 3678 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.828 5 276 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.859 21.209 91 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.002 15 393 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.943 15 36 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.059 0.2 360 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2340 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 420 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.191 0.2 394 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.196 0.2 1683 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.15 0.2 1045 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.085 0.2 1200 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.126 0.2 129 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.176 0.2 5 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.23 0.2 62 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.151 0.2 16 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.733 2 1761 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.363 2 523 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.061 3 2224 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.626 2 834 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.212 3 714
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.155 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.313 60 - Rwork 0.235 1191 - all - 1251 - obs - - 95.72 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.4476 0.3987 0.1967 1.2883 0.6836 1.14 0.0634 -0.026 -0.0111 0.0246 -0.0422 0.092 -0.0241 -0.0542 -0.0212 -0.0634 0.029 0.009 -0.0319 0.0088 -0.0172 -9.2425 12.5028 26.1792 2 0.9182 0.3869 0.2986 1.362 0.6363 1.4858 -0.0593 0.0784 -0.0491 -0.1431 0.0751 -0.0669 -0.1237 0.0723 -0.0158 -0.0497 -0.0009 -0.0015 -0.0356 0.0163 -0.0297 11.754 14.6902 21.5435
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA2 - 132 5 - 135 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB2 - 131 5 - 134