プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.76→50 Å / Num. obs: 37460 / % possible obs: 99.4 % / 冗長度: 3.8 % / Biso Wilson estimate: 29.9 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.046 / Rsym value: 0.038 / Net I/σ(I): 9.8
反射 シェル
解像度: 1.76→1.82 Å / 冗長度: 3.7 % / Rmerge(I) obs: 0.56 / Mean I/σ(I) obs: 1.4 / Rsym value: 0.35 / % possible all: 98.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELXD
位相決定
SHELXE
モデル構築
REFMAC
5.3.0034
精密化
ADSC
Quantum
データ収集
HKL-2000
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.76→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.956 / SU B: 3.163 / SU ML: 0.097 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.121 / ESU R Free: 0.115 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. OCCUPANCIES FOR SE ATOMS WERE SET TO 0.75.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22006
1159
3.1 %
RANDOM
Rwork
0.18768
-
-
-
obs
0.18872
35959
99.23 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK