モノクロメーター: diamond (111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.934 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.57→20 Å / Num. obs: 44378 / % possible obs: 98.6 % / Observed criterion σ(I): -3 / Biso Wilson estimate: 27.131 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.051 / Net I/σ(I): 23.93
反射 シェル
解像度: 1.57→1.67 Å / Rmerge(I) obs: 0.253 / Mean I/σ(I) obs: 6.5 / Num. measured obs: 38935 / Num. unique all: 6857 / % possible all: 92
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
データスケーリング
REFMAC
5.2.0019
精密化
PDB_EXTRACT
2
データ抽出
XDS
データ削減
SHELXD
& SHARP
位相決定
精密化
解像度: 1.57→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.978 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.966 / SU B: 2.512 / SU ML: 0.041 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.079 / ESU R Free: 0.07 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS, TLS-REFINEMENT HAS BEEN USED THROUGHOUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.169
2236
5 %
RANDOM
Rwork
0.12
-
-
-
obs
0.122
44378
98.82 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 18.026 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.57→20 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2458
0
11
346
2815
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.027
0.021
2530
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
1755
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
2.089
1.965
3444
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
1.486
3
4215
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.317
5
313
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
29.92
22.344
128
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
13.571
15
422
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
17.798
15
32
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.145
0.2
368
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.011
0.02
2886
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.004
0.02
556
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.234
0.2
540
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.238
0.2
1935
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.181
0.2
1214
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.087
0.2
1454
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.21
0.2
225
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
0.255
0.2
1
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.014
0.2
1
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.304
0.2
17
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.423
0.2
52
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.295
0.2
38
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
3.109
1.5
1957
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
1.78
1.5
622
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.454
2
2455
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
5.802
3
1147
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
7.534
4.5
989
LS精密化 シェル
解像度: 1.57→1.611 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.204
153
-
Rwork
0.108
2685
-
obs
-
2838
86.24 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: -20.0648 Å / Origin y: -5.9324 Å / Origin z: -13.3351 Å