ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB MOLREP位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT2 データ抽出 Show CrystalClearデータ収集 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB Entry 1FL1解像度 : 1.73→19.57 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.967 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.948 / SU B : 4.02 / SU ML : 0.067 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.106 / ESU R Free : 0.108 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20394 2568 5.1 % RANDOM Rwork 0.16122 - - - obs 0.16344 47865 93.92 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 25.575 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.06 Å2 0 Å2 0.03 Å2 2- - 0.04 Å2 0 Å2 3- - - -0.08 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.73→19.57 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3613 0 12 530 4155
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 3709 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 3465 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.485 1.986 5069 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.816 3 8025 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.883 5 470 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.819 23.05 141 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.128 15 574 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.332 15 23 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.149 0.2 602 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 4063 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 718 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.235 0.2 817 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.183 0.2 3631 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.176 0.2 1804 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.084 0.2 2232 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.193 0.2 394 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_other0.052 0.2 1 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.196 0.2 11 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.246 0.2 55 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.158 0.2 37 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.085 1.5 2422 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.273 1.5 933 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.639 2 3834 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.362 3 1448 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.535 4.5 1230 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.73→1.775 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.263 136 - Rwork 0.227 2311 - obs - - 61.78 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.1594 0.4254 -0.0432 1.6779 -0.842 1.7068 0.0143 -0.032 0.014 -0.0138 -0.0083 0.0072 -0.2453 0.0508 -0.006 -0.1043 -0.0058 0.0076 -0.129 -0.0173 -0.1214 -2.253 17.812 23.423 2 1.6182 -0.1753 -0.094 1.4778 -0.0825 1.3501 0.0169 -0.0562 -0.041 0.0538 0.0374 0.0136 0.1014 -0.0802 -0.0543 -0.1512 -0.0003 -0.0218 -0.1332 -0.0025 -0.1223 -23.212 -5.109 43.378
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A3 - 230 2 X-RAY DIFFRACTION 1 D1 - 6 3 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 230 4 X-RAY DIFFRACTION 2 C1 - 6