ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 2AV9解像度 : 3.01→37.85 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.941 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.886 / SU B : 35.414 / SU ML : 0.301 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R Free : 0.376 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. REFMAC 5.2.0019 AND COOT WERE USED FOR REFINEMENT.Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23843 408 4.7 % RANDOM Rwork 0.19471 - - - all 0.19677 8203 - - obs 0.19677 8203 97.97 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 61.228 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.23 Å2 -0.12 Å2 0 Å2 2- - -0.23 Å2 0 Å2 3- - - 0.35 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 3.01→37.85 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2135 0 0 11 2146
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.017 0.022 2187 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.842 1.935 2976 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg8.061 5 276 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg41.055 23.396 106 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg20.616 15 315 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.988 15 15 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.145 0.2 325 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 1723 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.245 0.2 942 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.324 0.2 1499 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.155 0.2 68 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.2 0.2 83 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.165 0.2 10 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.969 1.5 1417 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.496 2 2203 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.046 3 885 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.142 4.5 773 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
数 タイプ Rms dev position (Å)Weight position 556 tight positional0.07 0.05 498 medium positional0.39 0.5 556 tight thermal0.11 0.5 498 medium thermal0.75 2
LS精密化 シェル 解像度 : 3.01→3.092 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.285 31 - Rwork 0.238 614 - obs - - 98.77 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 3.6082 0.2752 0.4545 2.0029 0.245 4.1053 0.0175 -0.284 0.347 0.3059 -0.3126 0.4989 -0.2973 -0.6621 0.2952 0.0699 -0.0081 0.0418 0.2314 -0.1634 0.1738 -39.401 46.679 -6.362 2 2.1759 0.1237 -0.6008 3.8155 -1.2701 4.2073 -0.2155 0.0048 0.4045 0.1372 0.1504 0.3074 -0.3063 -0.2992 0.0651 0.1299 0.0493 -0.0467 -0.0458 0.0064 0.133 -53.666 13.455 14.055
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA6 - 144 8 - 146 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB6 - 144 8 - 146