モノクロメーター: SI / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9537 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3→25 Å / Num. obs: 14194 / % possible obs: 96.9 % / Observed criterion σ(I): 2.5 / 冗長度: 11 % / Rmerge(I) obs: 0.13 / Net I/σ(I): 19.5
反射 シェル
解像度: 3→3.11 Å / 冗長度: 7.4 % / Rmerge(I) obs: 0.44 / Mean I/σ(I) obs: 2.5 / % possible all: 90.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: OTHER / 解像度: 3→25 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.908 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.842 / SU B: 71.804 / SU ML: 0.589 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.61 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.33
716
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.248
-
-
-
obs
0.252
14194
96.8 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK