プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.008 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→30 Å / Num. obs: 104040 / % possible obs: 98.4 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 5.9 % / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 27.6
反射 シェル
解像度: 1.8→1.91 Å / 冗長度: 5.5 % / Rmerge(I) obs: 0.08 / Mean I/σ(I) obs: 8.5 / % possible all: 97.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
SHARP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.8→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.947 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.922 / SU B: 4.783 / SU ML: 0.075 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.131 / ESU R Free: 0.124 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. THE DISORDERED AA-BOX2 RESIDUES 385 - 397 WERE MODELED BY MODELLER FISER AND SALI, PROT SCI 9, P1753- 1773, 2000. OCCUPANCIES SET TO 0.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.221
1287
7.3 %
RANDOM
Rwork
0.185
-
-
-
obs
0.188
16243
100 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK