ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 2DRV解像度 : 2.1→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.929 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.906 / SU B : 17.026 / SU ML : 0.197 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.348 / ESU R Free : 0.237 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.27 1162 5.1 % RANDOM Rwork 0.24 - - - obs 0.24 21932 99 % - all - 22800 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 37.693 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.75 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -2.05 Å2 0 Å2 3- - - 0.3 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3176 0 0 258 3434
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.022 3226 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.352 1.971 4321 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg1.632 5 389 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg43.269 23.862 145 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.033 15 665 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg20.251 15 25 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.091 0.2 483 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 2329 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.253 0.2 1671 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.327 0.2 2263 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.22 0.2 183 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.283 0.2 42 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.25 0.2 10 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.517 1.5 2008 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.086 2 3134 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.481 3 1374 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.286 4.5 1187
LS精密化 シェル 解像度 : 2.119→2.173 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.273 73 - Rwork 0.253 1311 - obs - - 94.18 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 37.2995 Å / Origin y : 20.5334 Å / Origin z : 62.9046 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0636 Å2 0.0157 Å2 -0.0004 Å2 - -0.0059 Å2 0.0061 Å2 - - -0.0421 Å2 L 0.556 °2 0.0088 °2 0.1866 °2 - 0.5644 °2 -0.1805 °2 - - 0.5447 °2 S 0.0149 Å ° 0.0212 Å ° 0.0185 Å ° -0.133 Å ° -0.0494 Å ° -0.0346 Å ° -0.0031 Å ° 0.005 Å ° 0.0345 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA4 - 200 4 - 200 2 X-RAY DIFFRACTION 1 BB5 - 198 5 - 198